Bowman O Serisi XRF
Bowman O Serisi XRF Sistemleri ile yapılabilecek uygulamalar;
- Polikapiler Optik ile 80 mikrona kadar odaklama ve analiz
- Kaplama Kalınlığı Analizleri,
- Kaplama Banyosu Analizleri,
- PCB ve Elektronik Analizleri - ENIG / ENEPIG
Lamda Analitik Sistemler'in Türkiye'deki tek yetkili temsilcisi olduğu Bowman XRF markasının, O Serisi XRF sistemleri üstten alta uyarım yapar, otomatik iki boyutlu hareketli bir tablaya sahiptir ve kaplama analizleri konusunda yüksek performans sunar. Yüksek performans ve tekrarlanabilir analizler sunmak üzere tasarlanmış O Serisi XRF sistemleri, diğer tüm Bowman XRF modelleri gibi standart olarak:
- 5 kata kadar kaplama analizi yapabilir.
- Değerli metal & metal analizlerinde yüksek performans sunar.
- Kullanıcı dostu, kolay uygulama geliştirilebilen ve Türkçe dil desteği sunan yazılım ile sunulur.
- Mevcut teknolojinin sunduğu en yüksek sayım ve çözünürlük değerlerine sahip SDD dedektör ile donatılmıştır. Bu sayede kaplama banyolarınızda binde ve hatta ppm mertebesinde elementel analiz yapabilir, yüksek kalınlık veya 1 mikron altı kaplama analizi yapabilir ve en önemlisi yüksek tekrarlanabilirlik sağlar.
- Sistem tam sürüm yazılım ile sunulur ve gelecekteki ihtiyaçlarınız doğrultusunda oluşturulacak herhangi bir uygulama için ek yazılım maliyeti gerektirmez.
- Geleceksel kaplama analiz sistemlerinden farklı olarak uzaktan(on-line) bağlantı mümkündür ve bu sayede servis mühendisinin tesisinizi ziyaretine gerek kalmadan kalibrasyon ve arıza çözüm desteğine olanak sağlar.
- O Serisi, rakiplerinin aksine, yeterli donanıma sahip herhangi bir bilgisayar ile kontrol edilebilir.
Bu standart özelliklerin yanı sıra, sahip olduğu polikapiler optik odaklama sistemi ile 80 mikrona kadar olan noktalara odaklanabilir ve sunduğu güçlü uyarım geometrisi ile hassas sonuçlar almanıza imkan sağlar. Genellikle PCB gibi elektronik kart üretimlerinde önerilen O Serisi ile ENIG, ENEPIG ve akımsız nikel gibi zorlu uygulamalarda tekrarlanabilir sonuçlar alınır.
- Klasik kaplama analizlerinin yanısıra ENIG, ENEPIG ve Akımsız Kaplamalar
- Au/Pd/Ni/Cu, NiP/Cu, Ni/Cu/Ti/Si, SnPb, SnAg, SnAgCu, AuSn, NiFe, Cr, Ag, Rh, Al
- Yarı iletken ve elektronik kart analizleri
- Özellikle çok küçük noktaların (<0,1 mikron) analizlerinin istendiği uygulamalar
- 50 W x-ışın tüpü,
- Yüksek çözünürlüklü SDD dedektör, opsiyonel L-SDD dedektör,
- 80 mikrona kadar odaklanabilen polikapiler optik sistem,
- Al - U elementel ölçüm aralığı,
- 5 kata kadar kaplama kalınlığı analizi,
- Otomatik XY numune besleme tablası,
- Yüksek çözünürlüklü kamerası ile görüntüden otomatik numune odaklaması,
- Sahip olduğu lazer mesafe ölçümü ile otomatik numune odaklaması,
- Opsiyonel XY ekseninde daha geniş otomatik X-Y numune besleme tablası seçeneği,
- Tam sürüm yazılım ile kaplama kalınlığı, kaplama banyosu gibi uygulamaların tamamına erişim,
Ayırt edici özellik;
Bowman O Serisi XRF sistemi, sahip olduğu polikapiler optik odaklama sistemi ile, klasik kolimatörlerden farklı olarak x-ışınlarını çok daha küçük noktalara yoğun bir şekilde yönlendirebilir. Bu sayede, analizi istenen mikro noktaların haricindeki bölgelerden uyarım almadan direkt olarak analiz yapılabilir.
